Электронный каталог библиотеки МГУ имени А.А. КулешоваИвашкевич, И. В. - Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Ивашкевич, И. В. - Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии

Ивашкевич, И. В. - Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии

Нет экз.

Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии

Книга (аналит. описание)
Автор: Ивашкевич, И. В.
Оптика неоднородных структур - 2019: Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)

Ивашкевич, И. В.
Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии / И. В. Ивашкевич, Е. Г. Гарай, Е. В. Третьяк // Оптика неоднородных структур - 2019 : материалы V Международной научной конференции, 28-29 мая 2019 г. / [редкол. А. Б. Сотский (отв. ред.), А. В. Хомченко, В. А. Юревич, И. В. Ивашкевич и др.] . – Могилев : МГУ имени А. А. Кулешова, 2019 . – С. 111-114.

Научные сотрудники МГУ = Факультет математики и естествознания : Кафедра физики и компьютерных технологий : Ивашкевич И. В.
Ключевые слова = Физика
Предметные рубрики = Естественные науки : Физико-математические науки : Физика : Оптика : Оптическая спектроскопия
Ключевые слова = Спектроскопия