Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Стаськов Н. И. - Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
Стаськов Н. И. - Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Автор: Стаськов Н. И.
Оптика неоднородных структур - 2007: Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Стаськов Н. И.
Оптика неоднородных структур - 2007: Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Стаськов, Н. И.
Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии / Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, О. А. Паушкина // Оптика неоднородных структур - 2007 : материалы международной научно-практической конференции 2-3 октября 2007 г. – Могилев : МГУ имени А. А. Кулешова, 2007 . – С. 103-106. – На рус. яз.
Предметные рубрики = Естественные науки : Физико-математические науки : Физика : Оптика : Экспериментальные методы и аппаратура
Научные сотрудники МГУ = Факультет математики и естествознания : Кафедра физики и компьютерных технологий : Ивашкевич И. В.
Научные сотрудники МГУ = Факультет математики и естествознания : Кафедра физики и компьютерных технологий : Стаськов Н. И.
Стаськов, Н. И.
Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии / Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, О. А. Паушкина // Оптика неоднородных структур - 2007 : материалы международной научно-практической конференции 2-3 октября 2007 г. – Могилев : МГУ имени А. А. Кулешова, 2007 . – С. 103-106. – На рус. яз.
Предметные рубрики = Естественные науки : Физико-математические науки : Физика : Оптика : Экспериментальные методы и аппаратура
Научные сотрудники МГУ = Факультет математики и естествознания : Кафедра физики и компьютерных технологий : Ивашкевич И. В.
Научные сотрудники МГУ = Факультет математики и естествознания : Кафедра физики и компьютерных технологий : Стаськов Н. И.