Электронный каталог

eng|rus

Библиотека МГУ имени А.А. Кулешова

Наш адрес: 212022, г. Могилев, ул. Космонавтов, 1
Тел. (0222) 70-69-60 Факс (0222) 71-36-26
Email: library@msu.by
Режим работы:понедельник-пятница с 9.00 до 17.30
выходные дни: суббота, воскресенье

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По циклам дисциплин
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Книги в рубрике:

Рубрики
--> Факультет математики и естествознания
----> Кафедра физики и компьютерных технологий
------> Ивашкевич И. В.

Рубрика

Название:
 
Ивашкевич И. В.  

Печать списка

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Возможности метода НПВО при исследовании приповерхностных слоев полимерных пленок
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Возможности метода НПВО при исследовании приповерхностных слоев полимерных пленок
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Диагностика ориентации оптической оси одноосной подложки на спектральном эллипсометре ES-2
Нет экз.
Книга (аналит. описание)

Диагностика ориентации оптической оси одноосной подложки на спектральном эллипсометре ES-2
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Дисперсия оптических параметров перовскитных пленок
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Ивашкевич И. В.
Дисперсия оптических параметров перовскитных пленок
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Исследования структуры пленок ZnO и TiOx методами эллипсометрии
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Ивашкевич И. В.
Исследования структуры пленок ZnO и TiOx методами эллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Методика оценки толщины слоя нитрида кремния на кремниевой подложке с диоксидом кремния
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Методика оценки толщины слоя нитрида кремния на кремниевой подложке с диоксидом кремния
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Многоугловая эллипсометрия слоя аморфного кремния
Нет экз.
Книга (аналит. описание)

Многоугловая эллипсометрия слоя аморфного кремния
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник - диэлектрик - полупроводник
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник - диэлектрик - полупроводник
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Определение толщины пленки TiO2 на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Оптические постоянные полистирола в области 1412-1500 см-1
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Оптические постоянные полистирола в области 1412-1500 см-1
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Поляризуемость поверхностного оксидного слоя на кремниевой подложке
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Поляризуемость поверхностного оксидного слоя на кремниевой подложке
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Применение методов ИК спектроскопии для исследования оптических свойств анизотропных полимерных с...
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов, Н. И.
Применение методов ИК спектроскопии для исследования оптических свойств анизотропных полимерных с...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Решение обратной задачи спектроскопии НПВО для одноосных пленок ПЭТФ
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Ивашкевич И. В.
Решение обратной задачи спектроскопии НПВО для одноосных пленок ПЭТФ
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Роль физического практикума в преподавании курса общей физики
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Ивашкевич И. В.
Роль физического практикума в преподавании курса общей физики
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Спектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структур
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Стаськов Н. И.
Спектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структур
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Спектральная эллипсометрия неоднородных полупроводниковых пленок
Нет экз.
Статья
Ивашкевич, И. В.
Спектральная эллипсометрия неоднородных полупроводниковых пленок
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Учебно-методический комплекс по курсу общей физики "Оптика"
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Ивашкевич И. В.
Учебно-методический комплекс по курсу общей физики "Оптика"
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Учебно-методическое обеспечение образовательного процесса по учебной дисциплине "Методы обработки...
Нет экз.
Книга (аналит. описание)

Учебно-методическое обеспечение образовательного процесса по учебной дисциплине "Методы обработки...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии
Нет экз.
Книга (аналит. описание)
Ивашкевич, И. В.
Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Оптика
Доступно
 1 из 1
Книга
Ивашкевич И. В.
Ч.1. : Оптика: краткий теоретический материал практических и лабораторных занятий
МГОИРО, 2013 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Оптика
Доступно
 1 из 1
Книга
Ивашкевич И. В.
Ч.2. : Оптика: практические занятия
МГОИРО, 2013 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Оптика
Доступно
 1 из 1
Книга
Ивашкевич И. В.
Ч.3. : Оптика: лабораторные занятия
МГОИРО, 2013 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Элипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем
Нет экз.
Статья

Элипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Эллипсометрия полиимидных пленок
Нет экз.
Книга (аналит. описание)

Эллипсометрия полиимидных пленок
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.61